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+天瑞儀器在累計萬臺以上的能量色散型X射線熒光分析裝置的業績基礎上,十年磨一劍,開發出將多種需求高水平融于一體的天瑞X射線熒光光譜儀分析裝置—EDX1800E(智能款)。儀器配置電子制冷的高性能半導體檢測器、超近低損耗測試光路、高功率高管壓激發光源、獨立通道散熱風路、智能一鍵測試模塊、大屏幕觸控電腦及全自動機械臂進樣系統(選配),與以往機型相比,實現更高靈敏度、高準確度、高智能化、高效率。
天瑞能量色散X射線熒光光譜儀EDX 600PLUS能量色散X熒光光譜儀使用實用的正比計數管,以實在的價格定位,滿足貴金屬的成分檢測和鍍層厚度測量的要求,且全新的更具有現代感的外形、結構及色彩設計,使儀器操作更人性化、更方便。
天瑞X射線熒光光譜儀EXPLORER 5000T手持式XRF鍍層厚度分析儀是使用全新大屏高分辨率液晶顯示屏及新型數字多道數據處理器的便攜式手持鍍層測厚分析儀。EXPLORER 5000T可對大面積鍍層產品進行膜厚分析,儀器不僅體積小、重量輕,可隨身攜帶進行測量;而且性能很好,堪比臺式機。
秉承X熒光光譜儀20多年研發經驗,天瑞元素錄井分析儀EDX5500H再次推動了巖石中元素含量向具體化、快速化方向的發展。將X射線熒光分析(XRF)用于巖屑錄井這項技術的獨到之處在于:天瑞X射線熒光光譜儀通過巖屑化學元素組合特征的分析來識別巖性,再通過巖性的組合特征分析來判斷層位,因此適合于任何鉆井條件下的巖屑錄井。